High energy x-ray diffraction on ultrasound excited crystals
Die Arbeit "High Energy X-Ray Diffraction On Ultrasound Excited Crystals" behandelt zeitaufgelöste und zeitintegrierte Hochenergie-Röntgenbeugung an ultraschallangeregten Silizium Kristallen. Mit hochenergetischer Synchrotronstrahlung einer Energie über 80 keV und einem hochauflösenden Dreiachsendiffraktometer mit einer maximalen Winkelauflösung von 0.01 Bogensekunden werden in Laue-Streugeometrie erstmals ultraschallinduzierte Satellitenreflektionen aus dem Volumen eines Kristalls nachgewiesen. Es wird gezeigt, welche Propagationsrichtung und Amplitude die durch einen ...